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聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測(cè)行業(yè)新動(dòng)態(tài)
瑞凱儀器
18 2021-09

風(fēng)風(fēng)雨雨-瑞凱儀器闖過(guò)的二十年!

瑞凱研發(fā)設(shè)計(jì)為一體,并細(xì)分為幾大設(shè)計(jì)方向,每個(gè)方向又設(shè)有專(zhuān)門(mén)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)模塊,各模塊的設(shè)計(jì)結(jié)果匯總為一個(gè)整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達(dá)到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱(chēng)是制造大廠(chǎng),也基本上具備了多方面面進(jìn)軍制造強(qiáng)廠(chǎng)的條件。
芯片JESD22-A102無(wú)偏高壓蒸煮試驗(yàn)箱加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

芯片JESD22-A102無(wú)偏高壓蒸煮試驗(yàn)箱加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

本測(cè)試方法主要用于耐濕性評(píng)估和強(qiáng)健性測(cè)試。樣品放置于一個(gè)高壓、高濕環(huán)境下,在壓力下濕氣進(jìn)入封裝,使弱點(diǎn)暴露,如分層、金屬…
HAST試驗(yàn)箱為何成為集成電路IC可靠性測(cè)試的佳選?

HAST試驗(yàn)箱為何成為集成電路IC可靠性測(cè)試的佳選?

目前,在集成電路IC領(lǐng)域,環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備主要有高低溫試驗(yàn)箱以及HAST試驗(yàn)箱。但為什么HAST試驗(yàn)箱會(huì)成為集成電路I…
電子組件溫度循環(huán)試驗(yàn)箱工作機(jī)理

電子組件溫度循環(huán)試驗(yàn)箱工作機(jī)理-瑞凱儀器

溫度循環(huán)試驗(yàn)主要是利用不同材料熱膨脹系數(shù)的差異,加強(qiáng)其因溫度快速變化所產(chǎn)生的熱應(yīng)力對(duì)試件所造成的劣化影響。當(dāng)電子組件經(jīng)受…
大功率LED在高溫下的可靠性試驗(yàn)

大功率LED在高溫下的可靠性試驗(yàn)

試驗(yàn)裝置與設(shè)備試驗(yàn)設(shè)備包括恒溫恒濕試驗(yàn)箱、LED光源光色測(cè)試系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)電源、結(jié)溫測(cè)試儀和三維體式顯微鏡,如圖3所示。恒溫…
溫度對(duì)大功率LED可靠性的影響

溫度對(duì)大功率LED可靠性的影響

對(duì)于LED這類(lèi)超長(zhǎng)壽命的電子器件,通常使用比正常使用時(shí)所預(yù)期的溫度更高的溫度來(lái)進(jìn)行可靠性試驗(yàn),即加速試驗(yàn)。施加的加速條件…
做高低溫沖擊試驗(yàn)需注意的三個(gè)細(xì)節(jié)問(wèn)題

做高低溫沖擊試驗(yàn)需注意的三個(gè)細(xì)節(jié)問(wèn)題

高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)空間容積與受試件體積的比值應(yīng)不小于5:1,使高低溫沖擊試驗(yàn)箱有足夠的熱容量。此外,箱內(nèi)受試件的擺放位置…

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