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聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
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瑞凱儀器
18 2021-09

風風雨雨-瑞凱儀器闖過的二十年!

瑞凱研發(fā)設計為一體,并細分為幾大設計方向,每個方向又設有專門的技術(shù)研發(fā)團隊模塊,各模塊的設計結(jié)果匯總為一個整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱是制造大廠,也基本上具備了多方面面進軍制造強廠的條件。
案例分析:基于溫度循環(huán)試驗判斷半導體分離器件不良現(xiàn)象

案例分析:基于溫度循環(huán)試驗判斷半導體分離器件不良現(xiàn)象

從以上實例分析中可以看到溫度循環(huán)測試對于半導體分離器件在內(nèi)部不同介質(zhì)界面的可靠性測試中充分反映出潛在需要提高的問題,為產(chǎn)…
溫度循環(huán)測試對芯片燒結(jié)性能的影響

技術(shù)分析:溫度循環(huán)測試對芯片燒結(jié)性能的影響

半導體器件在貯存、運輸和使用過程中時刻要遇到溫度環(huán)境,溫度環(huán)境應力對元器件性能的影響時刻存在。例如,高溫時導致半導體器件…
試驗案例:高濕對電子產(chǎn)品安全性能的影響

試驗案例:高濕對電子產(chǎn)品安全性能的影響

高濕條件下,由于水汽吸附吸收和擴散作用,許多材料在吸濕后膨脹、性能變差強度降低,引起機械性能和電性能下降。高濕對設備安全…
高溫對電源適配器安全性能的影響

試驗案例:高溫對電源適配器安全性能的影響

通過試驗可驗證較高的環(huán)境溫度會增加設備的發(fā)熱程度。選擇在發(fā)熱上具有一定代表性的試驗樣品,使其處于滿負載的條件下,或處于在…
集成電路芯片高低溫測試的應用

集成電路芯片高低溫測試的應用

通過實際應用發(fā)現(xiàn),必須注意以下一些具體的環(huán)節(jié),如測試板的隔離、防潮,被測器件的靜電保護,被測器件芯片溫度的確定等問題、才…
LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

溫度循環(huán)試驗應按照GB/T2423.22-2012的試驗Nb:“規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定進行。試驗應在滿足GB…

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