電子元器件冷熱沖擊試驗的目的及操作流程 
 
  
   作者:  
   
     salmon范 
    
   編輯:  
   
     瑞凱儀器 
    
   來源:  
   
     www.smxjz.cn 
    
   發(fā)布日期: 2019.08.10  
 
 
  
 
 
  
    1、前言
     1.1 目的
     確定元件曝露于高低溫極值下,以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。
     1.2 應用
     試驗樣品的失效數(shù)應以后檢測為依據。
     2、試驗條件
     2.1極值溫度及循環(huán)次數(shù)
     見表1.
    
    
        2.2 極值溫度下的試驗時間
     見表2
    
        3、對試驗 設備的要求
    3.1 
冷熱沖擊試驗箱應能提供第2章表1所規(guī)定的極值溫度條件。
     3.2
 冷熱沖擊試驗箱應符合GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗方法 總則》第4.4條a的規(guī)定。
     3.3冷熱沖擊試驗箱應有足夠的熱容量,以便試驗樣品放入試驗箱后,在5min內工作空間就能達到所規(guī)定的溫度值。
     3.4試驗樣品的安裝和支撐架的導熱率應低,以保證試驗樣品與安裝和支撐架間處于一種絕熱狀態(tài)。
     4、試驗程序
     4.1初始檢測
        在試驗的標準大氣條件下,按有關標準的規(guī)定對試驗樣品進行外觀檢查和性能檢測。
        4.2試驗 樣品的安裝
    試驗樣品的安裝由有關標準規(guī)定,當裝入冷熱沖擊試驗箱時,應使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗樣品。
     4.3試驗
     4.3.1將試驗樣品置于低溫箱中,此時,低溫箱的溫度已調至表1規(guī)定的極值溫度,并在此溫度下按表2規(guī)定的時間進行保溫。
     4.3.2保溫 時間到,在5min內將試驗樣品從低溫箱移至高溫箱中。此時,高溫箱的溫度已調至表1規(guī)定的極值溫度,并在此溫度下按表2規(guī)定的時間進行保溫。
     4.3.3保溫時間到,在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度,并在此溫度下按4.3. 1款的試驗時間進行保溫。
     4.3.4按表1規(guī)定的循環(huán)次數(shù),重復4.3.1至4.3.3款。一次循環(huán)包括表1中的步驟1至步驟4。
        初的5次循環(huán)應連續(xù)地進行。5次循環(huán)后,在任何一次循環(huán)完成之后都可以中斷試驗。再恢復試驗之前可允許試驗樣品恢復到試驗的標準大氣條件。
        4.4中間檢測
    由有關標準規(guī)定
     4.5 恢復
     后循環(huán)結束,試驗樣品置于試驗的標準大氣條件下達到溫度穩(wěn)定。4.6 后檢測
     按有關標準規(guī)定對試驗樣品進行外觀檢查和性能測量。
     5、失效數(shù)據
 由有關標準規(guī)定。
     6、采用本標準時應規(guī)定的細則
     a.安裝方法(見4.2條);
     b.以字母為代號的試驗條件(見4.3.1.4.3.2及4.3.4款);c. 初始、中間及后檢測(見4.1.4.4及4.6條)。