一、測(cè)試裝置及條件
二、測(cè)試內(nèi)容
三、測(cè)試結(jié)果
1、電容屏測(cè)試前后的基本性能
2、電容屏測(cè)試后的基本性能:
經(jīng)過(guò)1000小時(shí)的“雙85”測(cè)試后,電容屏依然保持原有的性能特性,環(huán)測(cè)前后數(shù)值變化在10%以內(nèi),1000小時(shí)的高溫高濕環(huán)測(cè)的TP測(cè)試功能數(shù)據(jù)對(duì)比和環(huán)測(cè)前測(cè)試功能的數(shù)據(jù)對(duì)比都在要求范圍內(nèi),證明透明導(dǎo)電膜材料制成的TP可以通過(guò)環(huán)測(cè)1000小時(shí)“雙85”項(xiàng)目,性能穩(wěn)定可靠。
環(huán)測(cè)前后數(shù)值變化在10%以內(nèi)







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